高溫試驗一般是將產品置于恒溫箱或恒溫室內進行試驗。介質的溫度用溫度計在不同
位置測定，取其算術平均值。但要求箱內溫度盡可能均勻，通過熱空氣流動加熱產品，不 應使試驗樣品靠近熱源。為減少輻射影響，試驗箱的壁溫不應高于環(huán)境溫度 3%。 低溫試驗一般在低溫箱（室）內進行，其溫度一般靠人工制冷的方法獲得。在低溫箱 的有效工作空間內，用強迫空氣循環(huán)來保持低溫條件的均勻性。

半導體制造商使用我們的產品進行集成電路（IC）和晶圓的開發(fā)，鑒定和*終測試，前端晶 圓制造以及跨行業(yè)的其他電子測試，這些行業(yè)包括：汽車，/航空，能源，工業(yè)和電信 市場。我們提供感應加熱產品，用于在各種工業(yè)市場中接合和成形金屬，包括汽車，航空航 天，機械，電線和緊固件，醫(yī)療，半導體，食品和飲料以及包裝。特定產品包括溫度管理系 統(tǒng)，感應加熱產品，操縱器和對接硬件產品以及定制的接口解決方案。我們已與全球客戶建 立了牢固的關系，并通過當地辦事處網絡提供支持。 .

該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán) 境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。 該試驗設備主要用于對產品按照*標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件
下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品 的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。